機(jī)械式振動(dòng)臺(tái)，低頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，模擬汽車運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)
電磁式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)在當(dāng)今經(jīng)濟(jì)潮流,已從過去地域性的經(jīng)濟(jì)模式而走向性的經(jīng)濟(jì)貿(mào)易。無論是地域性市場(chǎng)或進(jìn)軍市場(chǎng)，的表現(xiàn)是不容諱言的。而振動(dòng)測(cè)試更是協(xié)助您產(chǎn)品躍入行列中不可缺乏的利器。
產(chǎn)品達(dá)到用戶手中，在此過程中將有不同狀態(tài)之振動(dòng)產(chǎn)生，造成產(chǎn)品不同程度的損壞。而對(duì)于產(chǎn)品有任何損壞都不是廠商及客戶所愿意見到的，然而運(yùn)送過程所發(fā)生的振動(dòng)卻是難以避免，若一味的提高包裝成本，必將帶來嚴(yán)重而不必要的浪費(fèi)，反之脆弱的包裝卻造成產(chǎn)品的高成本，并喪失了產(chǎn)品形象及市場(chǎng)，這些都不是我們所愿見到的。
振動(dòng)測(cè)試約在四、五十年前開始萌芽，理論建立時(shí)，并無助于人們相信它的重要性，直到二次大戰(zhàn)時(shí)，許多的飛行器、艦艇、車輛及器材在使用后，意外的發(fā)現(xiàn)機(jī)件失零的比例相當(dāng)高，經(jīng)研究的結(jié)果發(fā)現(xiàn)，大都由于其結(jié)構(gòu)無法承受其本身所產(chǎn)生的長(zhǎng)時(shí)間共振，或搭載物品承受運(yùn)送共振所引起之，元件松脫、崩裂，而致機(jī)件失零甚而造成巨大損失。當(dāng)這項(xiàng)結(jié)果公布后，振動(dòng)測(cè)試才受到各界重視，紛紛投入大筆經(jīng)費(fèi)、人力去研究。對(duì)于振動(dòng)量測(cè)分析以至模擬分析的近代理論建立后，對(duì)振動(dòng)測(cè)試的方法及邏輯亦不斷改進(jìn)。尤其現(xiàn)今貨物的流通頻繁，使振動(dòng)測(cè)試更顯重要。
然而振動(dòng)測(cè)試的目的，是在于實(shí)驗(yàn)中作一連串可控制的振動(dòng)模擬，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，是否能承受運(yùn)送或振動(dòng)環(huán)境因素的考驗(yàn)，也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)及功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。據(jù)統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)顯示提升3%的設(shè)計(jì)水準(zhǔn)，將增加20%的回收及減少18%的各項(xiàng)不必要支出。振動(dòng)模擬依據(jù)不同的目的也有不同的方法如共振搜尋、共振駐留、循環(huán)掃描、隨機(jī)振動(dòng)及應(yīng)力篩檢等，而振動(dòng)的效應(yīng)計(jì)有：
一、結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度。
二、結(jié)合物的松脫。
三、保護(hù)材料的磨損。
四、零組件的破損。
五、電子組件之接觸不良。
六、電路短路及斷續(xù)不穩(wěn)。
七、各件之標(biāo)準(zhǔn)值偏移。
八、提早將不良件篩檢出。
滿足的試驗(yàn)方法： 本產(chǎn)品滿足IEC61215、IEC 61646、GB/T19394－2003、 GB/T9535－1998、GB/T6492－1986、GB/T6494、GB/T6497、SJ/T2196; IEC61345－1998; IEC61646、GB 10592—89、GB10586－89等標(biāo)準(zhǔn)。
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更新時(shí)間：2012-11-03 
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